10.03.2016
Neues spektroskopisches Ellipsometer von SENTECH Instruments
SENresearch 4.0 ist ideal für die Untersuchung von Materialien, Oberflächen und Schichtstapeln in F&E:
SENTECH Instruments GmbH, weltweit führender Hersteller für Anlagen der Plasma-Prozess-Technologie sowie für Schichtdickenmessgeräte, präsentiert das neue spektroskopische Ellipsometer SENresearch 4.0. Das SENresearch…