21.08.2013
5-in-1: Innovative Analysesysteme für das Rasterelektronenmikroskop
Bruker erweitert seine Produktpalette im Bereich der Materialcharakterisierung:
Mit der Einführung des WD-Spektrometers XSense und der neuen XTrace Röntgenquelle für Mikro-XRF am REM ist Bruker der erste Hersteller, der die 5 Analysemethoden, EDS, WDS, EBSD, Mikro-XRF und Mikro-CT, am REM…