5-in-1: Innovative Analysesysteme für das Rasterelektronenmikroskop
Bruker erweitert seine Produktpalette im Bereich der Materialcharakterisierung
Mit der Einführung des WD-Spektrometers XSense und der neuen XTrace Röntgenquelle für Mikro-XRF am REM ist Bruker der erste Hersteller, der die 5 Analysemethoden, EDS, WDS, EBSD, Mikro-XRF und Mikro-CT, am REM anbietet.
Einen Schritt voraus ist auch die neue 4-in-1-Software ESPRIT 2.0, die EDS, EBSD, WDS und Mikro-XRF unter einer einzigen Bedienoberfläche nahtlos integriert und damit ermöglicht, die mit diesen – einander ergänzenden – Methoden erzielten Daten frei zu kombinieren.
Neben diesen einmaligen analytischen Tools für Elektronenmikroskope bietet Bruker auch eine Reihe von Röntgenfluoreszenz-Mikroanalysatoren für ortsaufgelöste Elementanalysen mit hoher Empfindlichkeit für eine Vielzahl von Anwendungen in Industrie und Forschung.
Kontakt:
Bruker Nano GmbH
Am Studio 2D
12489 Berlin
Tel.: +49 (30) 67 09 90-0, Fax: -30
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